เครืองวัดผิวเคลือบและความหนาของผนัง | TI-CMXDL
เครื่องวัดความหนาแบบ Check-Line TI-CMXDL สามารถวัดความหนาของผนังและการเคลือบได้อย่างแม่นยำบนวัสดุหลากหลายประการ มีโหมดการวัดที่สามารถเลือกได้ 5 โหมดทำให้ผู้ใช้สามารถวัดความหนาของผนังและความหนาของการเคลือบอย่างแม่นยำ และตรวจพบสนิทและรอยหยั่งโดยไม่ต้องถอดการเคลือบออก
จอ LCD ขนาดใหญ่มีไฟพื้นหลังและมีเมนูที่ง่ายต่อการนำทางทำให้สามารถเข้าถึงการตั้งค่าและตัวเลือกของเครื่องวัดได้อย่างรวดเร็ว
มีโหมดการทำงานที่ผู้ใช้เลือกได้ 5 โหมด ได้แก่:
- โหมด Coating On: วัดความหนาของผนังโดยใช้ Pulse-Echo และแยกแสดงความหนาของผนังและการเคลือบ
- โหมด Coating Off: วัดความหนาของผนังโดยใช้ Pulse-Echo และแสดงเฉพาะความหนาของผนังเท่านั้น
- โหมด Temperature Compensated: วัดความหนาของผนังโดยใช้ Pulse-Echo และปรับการสอนแบบอัตโนมัติเพื่อปรับการสอนให้เหมาะสมกับการเปลี่ยนแปลงของอุณหภูมิวัสดุ
- โหมด Thru-Coat: วัดความหนาของผนังเท่านั้นโดยใช้ Echo-Echo (ไม่รวมการเคลือบ)
- โหมด Coating Only (CT): วัดความหนาของการเคลือบเท่านั้น ระหว่าง 0.0005 ถึง 0.100 นิ้ว (0.013 ถึง 2.540 มม.) ช่วงค่าจะแปรผันน้อยน้อยตามการเคลือบที่ใช้
Special Features of TI-CMXDL Data-Logge
- หน่วยความจำภายในพร้อมเอาต์พุต RS-232 สำหรับถ่ายโอนข้อมูลไปยังเครื่องพิมพ์หรือพีซี
- รวมซอฟต์แวร์การถ่ายโอนและวิเคราะห์ข้อมูล Datacomm และสายเคเบิล RS-232 ฟรี
- ไฟล์ข้อมูลสามารถตั้งค่าโดยผู้ใช้สำหรับโครงสร้าง “ประเภทกริด” โดยที่ข้อมูลถูกจัดรูปแบบเป็นแถวและคอลัมน์ หรือไฟล์ “ตามลำดับ” โดยที่ข้อมูลทั้งหมดปรากฏในคอลัมน์เดียว
- ไฟล์ “ประเภทกริด” แต่ละไฟล์สามารถตั้งค่าได้สูงสุด 999 แถว x 52 คอลัมน์
- ไฟล์ “ต่อเนื่อง” แต่ละไฟล์สามารถตั้งค่าได้สูงสุด 512 แถวต่อ 1 คอลัมน์
- แต่ละไฟล์สามารถตั้งค่าเป็น “ข้อมูลเท่านั้น” หรือเป็น “ข้อมูลบวกกราฟิก B-scan” ความจุหน่วยความจำมากกว่า 225,000 ค่าข้อมูล หรือมากกว่า 16,000 ค่าข้อมูลด้วย B-scan
Measuring Limits
Minimum Radius for Convex Surfaces | 0.350″ (8.89 mm) | |
Minimum Radius for Concave Surfaces | 3″ (76.2 mm) | |
Minimum Headroom | 1″ (25.0 mm) | |
Minimum Sample Diameter | 0.150″ (3.8 mm) | |
Minimum Substrate Thickness – F | NA | |
Minimum Substrate Thickness – NFe | NA |